\"\"
:
Анализ и сертификацияОборудование

Оборудование

Спектрометр с разрешением по длине волны ARL Optim’X (Applied Research Laboratories, Швейцария)
Экспрессный анализ веществ и материалов в диапазоне от 0,05 до 100 % масс.
 
Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой (Varian, Австралия)
Определение элементного и изотопного состава веществ и материалов. Пределы определения 10-5-1 % масс.
 
 
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой (Thermo Electron Corp., США)
Cпектрометр снабжен полупроводниковым CID детектором, который обеспечивает одновременное измерение всех аналитических линий, включенных в метод, и учет фона рядом с линиями.
 
 
Атомно-эмиссионный спектрометр с дугой постоянного тока и фотоэлектрической регистрацией
Спектрограф оборудован Многоканальным Анализатором Эмиссионных Спектров (МАЭС). Для возбуждения спектров используется универсальный генератор “Шаровая молния 25” совместно со специальным штативом “Глобула”.
 
 
Фотоэлектронный и Ожэ-спектрометр Эсхалаб МК-II (VG, Англия)
Определение состава и химического состояния элементов в поверхностных слоях с разрешением по глубине 0.5-2.0 нм и по поверхности 0.5 мкм.
 
 
Просвечивающий электронный микроскоп 200CX (JEOL, Япония)
Исследование структуры тонких фольг полупроводниковых материалов; ускоряющее напряжение 200кВ, разрешение по точкам 0,55 нм.
 
 
Сканирующий интерференционный микроскоп ZYGO NewView 6200 (Zygo, США)
Микроскоп NewView 6200 — это универсальный (многоцелевой)  бесконтактный неразрушающий анализатор микрорельефа отражающих поверхностей различных материалов: металлов, полупроводников, диэлектриков и др.
На основе интерференции отраженных от исследуемой поверхности и опорных белых световых лучей, микроскоп формирует трехмерное графическое изображение микроструктуры и топографии поверхности и проводит их цифровой анализ на базе программного обеспечения MetroPro. 
Многофункциональный исследовательский
микроскоп Olympus BX 51M
(Olympus, Япония)
Многофункциональный микроскоп Olympus BX51M является исследовательским микроскопом нового поколения. Он имеет оптическую систему, скорректированную на бесконечность, модульное строение, устойчивую Y-образную раму, мощный осветитель для проходящего света 100Вт, что позволяет получать яркие, высококонтрастные изображения.
Микроскоп Olympus BX51 использует следующие методы обзора: светлое поле,  темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК Номарского.
Микроскоп Olympus BX51M идеально подходит для установки в  центрах коллективного пользования, научно-исследовательских и диагностических лабораториях.  
Исследовательский стереомикроскоп Olympus SZX16 (Olympus, Япония)
Исследовательский микроскоп Olympus SZX16 позволяет использовать следующие методы контрастирования: светлое поле, косое освещение, поляризация, люминесценция.
Многофункциональный исследовательский микроскоп Рolyvar-met (Riechert-Jung, Австрия)
Микроскоп Рolyvar-met позволяет использовать следующие методы обзора: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет,  дифференциальный интерференционный контраст Номарского (ДИК).
Микроскоп прямого наблюдения может работать как в проходящем, так и в отраженном свете.
Масс-спектрометр искровой JMS 01B2 (JEOL, Япония)
Предназначен для искрового масс-спектрального элементного и изотопного анализа твердых высокочистых веществ и материалов, порошков металлов, оксидов, руд и концентратов. Стандартный и модернизированный ионнный источник. Разрешение 7000, геометрия по системе Маттауха-Герцога. Ускоряющее напряжение до 30 кВ, система сканирования поверхности образца, фоторегистрация масс-спектра.
 
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр GBC Sens Dual (GBS, Австралия)
Экспрессное определение цветных, редких и драгоценных металлов в сырье, полупродуктах, соединениях и сплавах.
 
 
Атомно-абсорбционный спектрофотометр Z 3030 (Perkin Elmer, США)
Предназначен для определения микропримесей в растворах редких, цветных и драгоценных металлов и их соединений. Диапазон определения 10-6-0,01 % масс. Коррекция фона по Зееману; мощность 2кВт; автоматический пробоотборник; электротермическая атомизация; источник монохроматического излучения- лампа полого катода.
 
 
Анализатор влажности (Kern & Sohn, Германия )
Анализатор влажности MRS 120-3 предназначен для экспрессного и точного определения влажности материала в жидких, пористых и твёрдых веществах на основании термогравиметрического анализа.
 
Ультразвуковая ванна для очистки (Retsch®, Германия)
Ультразвуковая ванна RETSCH мягко и интенсивно чистит контрольные сита, микропрецизионные сита, стеклянные и металлические детали, а также металлургические и геологические образцы, очки, ювелирные изделия или монеты. В дополнение к очистке, ультразвуковые ванны очистки можно использовать для других рабочих процессов.
 
 
Планетарная шаровая мельница PM 100 (Retsch®, Германия)
Планетарная шаровая мельница RETSCH предназначена для измельчения и перемешивания мягких, от средне-твердых до очень твердых, хрупких и волокнистых материалов. Минералы, руды, сплавы металлов, химикаты, стекло, керамику, части растений, почвы, осадки сточных вод, промышленные и бытовые отходы и много других материалов можно измельчать быстро и без потерь. Планетарные шаровые мельницы используются практически во всех отраслях промышленности, где предъявляются высокие требования к чистоте помола, скорости, конечной тонкости и воспроизводимости результатов.
 
 
Лабораторный гидравлический пресс CARVER (CARVER®, U.S.A.)
Лабораторный гидравлический пресс применяется для изготовления таблетированных образцов в специальных пресс-формах при подготовке пробы к физико-химическим исследованиям. В частности при проведении элементного анализа вещества рентгеноспектральным флуоресцентным методом или методом ИК-Фурье спектроскопии. Разработан специально для оснащения производственных аналитических и исследовательских лабораторий.
 
 
Конвекционный сушильный шкаф (Thermo SCIENTIFIC, U.S.A.)
Сушильные шкафы предназначены для сушки, подогрева, прокаливания, испарения, стерилизации и различных испытаний материалов в лабораторных и промышленных условиях. Является идеальным оборудованием для сушки посуды, сушки и / или нагрева невоспламеняющихся кристаллических химических веществ, предварительного нагрева тиглей или других контейнеров и сушки бумажных фильтров.
 
 
Вибрационная дисковая мельница RS 200 (Retsch®, Германия)
Вибрационная дисковая мельница RETSCH предназначена для быстрого измельчения без потерь твердых, хрупких и волокнистых материалов, подходит для подготовки проб к спектральным анализам. Надежная конструкция мельницы позволяет использовать ее в секторе строительных материалов (цемент), в геологии, минералогии, металлургии и на электростанциях. Она особенно подходит для измельчения различных материалов.
 
 
Аналитическая просеивающая машина AS 200 control (Retsch®, Германия)
Аналитические просеивающие машины RETSCH используются в таких областях как исследования и разработки, входной, промежуточный и выходной контроль качества продукции, а также для контроля производства, где требуются сравнимые и воспроизводимые результаты рассева.
 
 
Масс-спектрометр газовый QMG-511 (Balzers, Лихтенштейн)
Предназначен для определения примесей в газовых смесях в пределах 10-4-10 % об. Разрешающая способность квадрупольного анализатора 2М; высокий вакуум до 10-8мм.рт.ст достигается с помощью турбомолекулярного насоса; прогреваемая система напуска; допускаем анализ агрессивных газообразных продуктов.
 
 
Микроденситометр автоматический MDM-6 (Oxford Instruments, Англия)
Количественная обработка масс-спектра, программное обеспечение, возможные шаги сканирования 2,5 мкм и 5 мкм
 
 
Дифракционный спектрограф ДФС-8 с дуговым источником (ЛОМО, СССР)
Предназначен для определения примесей в металлах и их соединениях. Пределы определения 10-5-0,1 % масс. Дифр. решетка 600 штр/мм; дисперсия 0,6 нм/мм; мощность генератора 2кВт; фотографическая регистрация
 
 
Плазменный спектрометр JY 38 (Jobin Yvon, Франция)
Предназначен для анализа элементного состава веществ и материалов в виде растворов. Пределы определения 0,001-50 % масс.; анализ последовательный; ИСП-плазма; мощность 2,5кВт, частота 27,12 МГц; дифр. решетка 180 штр/мм
 
 
Атомно-силовой и туннельный микроскоп (ИТЭФ, Россия)
Измерение и картирование морфологии поверхности с разрешением по глубине 0.1 нм и по поверхности 0.5 нм
 
 
Оптический Фурье - спектрометр (Brucker, Германия)
Измерение оптических параметров полупроводниковых материалов. Спектральная область 2-1000 мкм, разрешение 0.1 см-1, рабочая температура 5-350 К.
 
 
Рентгеновский микроанализатор состава Камебакс-Микробим (Cameca, Франция)
Измерение состава в точке, локальность по поверхности 1 мкм и, относительная погрешность 2%; картирование состава образца
 
 
Установка измерения сопротивления растекания ASR-100C (SSM, США)
Предназначена для определения электрических неоднородностей с разрешением 8-9 мкм. Диапазон измерения сопротивлений 10-4 -103 Ом.см
 
 
Сканирующий электронный микроскоп SEM-515 (Phillips, Голландия)
Исследование особенностей структуры широкого спектра материалов, нанокомпозитов и т.д. Увеличение до 40000 раз, ускоряющее напряжение 40 кВ, возможность приставки для проведения исследований в режиме наведенного тока
 
 
Гамма-спектрометрическая система на базе анализаторов IN-96 и полупроводниковых детекторов большого объема (Intertechnique, Франция)
Прибор предназначен для выполнения γ-измерений при исследовании радиоактивности образцов. Ge-детектор объемом 200см3, энергетическое разрешение 2 КэВ по γ-линии 1330 кЭв. Эффективность регистрации 45,5 %. Многоканальный анализатор имеет 8000 каналов и полное программное обеспечение.
 
 
Спектрофотометр SP 800B (Pye Unicam, Англия)
Предназначен для определения хлора, фосфора и серы в растворах. Спектральный диапазон 190-900 нм, абсорбция 0,03-3. Диапазон определяемых содержаний 10-3-0,1 % масс.